Главная
Новости
Строительство
Ремонт
Дизайн и интерьер
Строительная теплофизика
Прочность сплавов
Основания и фундаменты
Осадочные породы
Прочность дорог
Минералогия глин
Краны башенные
Справочник токаря
Цементный бетон




13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017





Яндекс.Метрика
         » » Микроскопия с разрешением решетки

Микроскопия с разрешением решетки

28.07.2017

Для трансмиссионной электронной микроскопии с разрешением решетки фольгу поворачивают, чтобы увидеть “с ребра” атомные плоскости плотной упаковки. При этом становится видно устройство границы наклона, ось которой лежит в этой плоскости. Поскольку это обычно ось симметрии, видно непосредственно упаковку границы (структурные элементы в одном атомном слое), а также неправильности их укладки — “шероховатость границы”.
Автоионная микроскопия наблюдает всегда одноатомный слой на поверхности. Ho вероятность попадания внутренней поверхности раздела на острие иглы автоионного микроскопа весьма мала. Однако, когда других средств еще не было, именно эти наблюдения укладки атомов в границе зерна послужили толчком к анализу решетки совпадений, хотя она была описана за 15 лет до того.
Автоионная томография — цифровой синтез трехмерной картины из послойных снимков в автоионном микроскопе — показала, что граница в вольфраме покрыта мелкими морщинами (с шагом около 3 нм) и ямками. Границы наблюдали и в туннельном микроскопе.
Автоионный микроскоп позволяет не только увидеть в границе примесный атом (отличающийся вероятностью десорбции газа, т. е. яркостью), но и, “вырвав полем”, опознать его по атомной массе. Сканирующий автоионный микроскоп отбирает так для формирования изображения лишь атомы одного элемента.