Главная
Новости
Строительство
Ремонт
Дизайн и интерьер
Строительная теплофизика
Прочность сплавов
Основания и фундаменты
Осадочные породы
Прочность дорог
Минералогия глин
Краны башенные
Справочник токаря
Цементный бетон




13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017


13.07.2017





Яндекс.Метрика
         » » Наблюдения дислокации на поверхности

Наблюдения дислокации на поверхности

27.07.2017

Существует два класса методов: прямые (наблюдения индивидуальной дислокации) и интегральные (измерения параметров системы дислокаций без наблюдения каждой из них).
Для наблюдения дислокации у выхода ее на поверхность важно разрешение метода, а в объеме кристалла — еще и “проникающая способность” — толщина просматриваемого слоя. То и другое зависит от принципа выявления дислокации.
Пронизанная дислокацией атомная плоскость на поверхности кристалла есть виток геликоида, а ее кромка — одноатомная ступень, скрученная в “спираль роста”. Ее видно в автоионном микроскопе (АИМ). Ho из всего образца АИМ позволяет видеть лишь площадку в 10 нм. Даже при высокой плотности дислокаций р ~ 10в10 см-2 одна дислокация найдется на 100 просмотренных образцов.
Этот метод непригоден для анализа взаимного расположения дислокаций или их плотности, но позволяет наблюдать “расщепленное ядро” дислокации (искаженное, впрочем, электрическим полем острия и силами изображения). Ho в сканирующем туннельном микроскопе видимая у поверхности ширина расщепления дислокации в меди r/b = 10 примерно соответствовала измеренной внутри фольги.
При световой микроскопии наблюдаемы “спирали роста” на поверхности кристалла. При длине световой волны Л = 0,4. 0,8 мкм фазоконтрастная микроскопия (интерферометрия с многократным отражением между объектом и полупрозрачной пластинкой) разрешает ступени высотой до h ~ Л/100 > 4 нм. При этом все еще h/b > 10, так что наблюдаемые фигуры роста - не от одиночных дислокаций (и чаще вообще принадлежат не металлу, а оксидной пленке). Собственно дислокационные ступени на поверхности удавалось оттенять для электронной микроскопии цепочкой капель, сконденсированных из пересыщенного пара.